応用情報技術者平成23年度秋期午前問23

LSIの故障メカニズムの一つであるESD(Electrostatic Discharge)破壊の説明として、適切なものはどれか。

	機械的な力によって、配線が切断されてしまう現象
	寄生サイリスタの導通によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
	静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
	電流が過度に流れることによって、配線が切断されてしまう現象

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